技術文章首頁 > 技術文章 > 全部文章
泰勒DUO粗糙度儀參數信息
點擊次數：326 更新時間：2025-06-23 打印本頁面 返回
技術參數
測量參數：支持測量超 20 項粗糙度參數。幅度參數包含算術平均偏差 Ra、輪廓最大高度 Rz（ISO 4287）/Rt（ASME B46.1）、均方根偏差 Rq；功能參數有輪廓支承長度率 Rmr (c)、偏斜度 Rsk、陡峭度 Rku；還有原始輪廓參數 Pa、Pz 等，滿足從基礎質量把控到復雜表面功能特性評估的多樣需求。
精度參數：分辨率達 0.01μm（0.4μin） ，可滿足微米級別的精密測量。量程范圍方面，粗糙度參數（Ra）為 0.01μm - 40μm；輪廓高度參數（Rz/Rt）是 0.1μm - 199μm；傳感器動態范圍在垂直方向為 200μm。計量級精度出色，示值誤差≤±5% 讀數 + 0.1μm（符合 ISO 3274 標準），重復性≤±2% 測量值 + 噪聲水平。濾波與評定采用標配的高斯濾波（Gaussian Filter），支持 ISO 11562 標準的 λs/λc 波長分離，保證測量結果符合國際標準。
硬件參數：傳感器為壓電式，測針是半徑 5μm（200μin）的金剛石材質。驅動速度 2mm / 秒（0.08in / 秒）。存儲環境要求溫度在 0 - 50℃，濕度 0 - 80% 非冷凝。設備分體式設計，通過滑軌鎖定機制可拆分為顯示 / 控制單元與驅動單元，驅動單元能單獨置于被測表面，顯示單元支持 1 米內無線遙控。采用藍牙 5.0 高速通信技術實現雙單元數據實時同步。儀器尺寸 125×80×38mm ，重量 200g。
數據存儲與輸出：內置存儲器可存儲≥500 組測量數據（含參數曲線），支持 USB - C 接口數據導出，能與 Surtronic Desktop 軟件兼容進行報表生成與趨勢分析。
