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雙功能DualScope FMP20涂層測(cè)厚儀信息
點(diǎn)擊次數(shù)：209 更新時(shí)間：2025-07-07 打印本頁(yè)面 返回
DualScope FMP20測(cè)厚儀集成了磁感應(yīng)與電渦流兩種先進(jìn)測(cè)量技術(shù)，能夠自動(dòng)識(shí)別鋼鐵材料與非鐵磁性基體，輕松應(yīng)對(duì)各類涂層厚度的測(cè)量任務(wù)，無(wú)需手動(dòng)切換模式，大大提高了測(cè)量效率。其測(cè)量范圍十分可觀，磁感應(yīng)模式下為 0～1500μm，渦流模式下為 0～1200μm，搭配不同探頭還能進(jìn)一步擴(kuò)展，滿足了不同場(chǎng)景下的微米級(jí)精度需求。
在精度方面，不同探頭各有出色表現(xiàn)。如 FGA1.3 磁感應(yīng)探頭在 0－50μm 范圍內(nèi)測(cè)量精度達(dá) 0.25μm，F(xiàn)GAB1.3 磁感應(yīng)探頭在 0－100μm 范圍內(nèi)精度為 0.5μm，F(xiàn)TA3.3H 渦流探頭在 0－50μm 范圍內(nèi)同樣能達(dá)到 0.25μm 的高精度。如此高的精度，確保了每一次測(cè)量結(jié)果的可靠性，為產(chǎn)品質(zhì)量提供了有力保障。
