菲希爾真品PHASCOPE PMP10測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：

菲希爾真品PHASCOPE PMP10測(cè)厚儀

簡介：手持式儀器，用于非破壞性的測(cè)量多種基材上的，包括小型結(jié)構(gòu)和粗糙表面上的導(dǎo)電涂層的厚度。

菲希爾真品PHASCOPE PMP10測(cè)厚儀

PHASCOPE PMP10是一款根據(jù)相位感度渦流方法快速，簡便和現(xiàn)場的測(cè)量鍍層厚度的手提式儀器。通過選擇合適的測(cè)量探頭，甚至可以達(dá)到非接觸式的測(cè)量。
取決于不同的測(cè)量探頭，儀器可以工作在60 kHz，240 kHz或1.25 MHz的頻率上。
PHASCOPE PMP10適合于厚度測(cè)量：

配合測(cè)量探頭ESD20Cu測(cè)量印刷線路板上覆銅板，即使在阻焊劑下的厚度。測(cè)量頻率工作在60 kHz或240 kHz上，允許根據(jù)當(dāng)前的應(yīng)用選擇頻率。配合測(cè)量探頭ESL080測(cè)量印刷線路板上通孔內(nèi)的銅壁厚度。

ESL080是一個(gè)針尖形狀的測(cè)量探頭，測(cè)量時(shí)需要插入通孔內(nèi) （左邊圖片）。一個(gè)外部的金屬護(hù)套保護(hù)測(cè)量線圈不受腐蝕和機(jī)械損壞。這一獲得的測(cè)量探頭設(shè)計(jì)為感應(yīng)出的渦流是沿著銅套管的縱向軸流動(dòng)的。這樣銅板層的直徑就對(duì)測(cè)量沒有影響，環(huán)形圈的尺寸也只有很小的影響。PHASCOPE PMP10用于印刷線路板上的校準(zhǔn)需要一塊銅基準(zhǔn)板以及校準(zhǔn)板。數(shù)據(jù)能夠在選配的打印機(jī)上輸出。菲希爾Fischer PHASCOPE PMP10涂層測(cè)厚儀金屬鍍層在鐵，非鐵金屬或非導(dǎo)電部件上的厚度測(cè)量 

為了達(dá)到這些應(yīng)用需要以下的測(cè)量探頭：
配合測(cè)量探頭ESD20Zn測(cè)量鋅，銅，鋁等鍍層在鋼或鐵上的厚度。尤其適合于在粗糙的表面測(cè)量。采用相位感度渦流方法允許非接觸式的測(cè)量，例如對(duì)于引線的測(cè)量。配合測(cè)量探頭ESD2.4測(cè)量鋅鍍層在較小的鋼部件上。由于它較小的測(cè)量面積以及相位感度渦流方法帶來的優(yōu)點(diǎn)，使得對(duì)于不同幾何尺寸的部件不需要特別的校準(zhǔn)。配合測(cè)量探頭ESD20Ni測(cè)量鋼或鐵部件上的電鍍鎳層。可以根據(jù)鎳層的厚度范圍選擇兩種不同的測(cè)量頻率（60 kHz或者 240 kHz）

特點(diǎn)

• 手持式儀器，根據(jù)相位敏感電渦流法快速、準(zhǔn)確地測(cè)量鍍層厚度，符合 DIN EN ISO 21968 標(biāo)準(zhǔn)
• 可測(cè)量印刷電路板上的銅厚度（頻率為60 kHz 或 240 kHz 的探頭 ESD20Cu）
• 可測(cè)量印刷電路板中孔銅厚度（探頭 ESL080）
• 可測(cè)量鐵、非鐵金屬或非導(dǎo)電部件上金屬涂層的厚度
• 提供的電腦軟件FISCHER DataCenter®具有以下功能：傳輸和保存測(cè)量值，全面的統(tǒng)計(jì)和圖形化評(píng)估，簡便生成并打印個(gè)人檢測(cè)報(bào)告
• 測(cè)量鋼鐵上的鋅、銅或鋁鍍層（適合粗糙表面的探頭ESD20Zn）
• 鋼制小部件上的鋅鍍層（用于較小測(cè)量面積的探頭 ESD2.4）
• 鋼鐵上的電鍍鎳層（探頭ESD20Ni，頻率 60 KHz 或 240 kHz)

Helmut Fischer集團(tuán)是一家受德國和瑞士基金會(huì)控股、專業(yè)生產(chǎn)和銷售涂鍍層測(cè)厚儀、材料分析儀、微硬度測(cè)試儀和材料測(cè)試儀的集團(tuán)公司。集團(tuán)總部位于德國和瑞士，在德國、美國和英國各建有一個(gè)工廠、并設(shè)立了一個(gè)研究院和一個(gè)用戶應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室，在*設(shè)有近50個(gè)分公司。

公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立，自2008 年起由德國辛德芬根和瑞士休倫堡的 Helmut Fischer 基金會(huì)共同擁有。HELMUT FISCHER Holding AG 涂鍍層測(cè)厚、材料分析、微硬度測(cè)試和材料測(cè)試領(lǐng)域可以為您提供比較良好的解決方案。

Helmut Fischer主要產(chǎn)品：Helmut Fischer測(cè)試樣片、Helmut Fischer涂層測(cè)厚儀、Helmut Fischer X射線熒光測(cè)量儀、Helmut Fischer微硬度測(cè)試儀、Helmut Fischer鐵素體儀、Helmut Fischer氧化膜密閉性測(cè)試儀、Helmut Fischer電導(dǎo)率測(cè)試儀等。