DualScope FMP20涂層測厚儀二合一機型的詳細資料：

DualScope FMP20涂層測厚儀二合一機型

Dualscope®FMP20：
由于自動基板材料識別和兩種測量方法的結合，該通用儀器能夠測量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導電材料上的許多涂層。根據您的測量應用，您可以根據磁感應法（Deltascope®FMP10），渦流法（Isoscope®FMP10）或根據兩種方法組合在一臺儀器（Dualscope®FMP20）中進行的涂層厚度測量。

DualScope FMP20涂層測厚儀二合一機型符合：ISO 2178,2360,2808; EN ISO 19840; ASTM B499; D1186，D1400，D7091，E376，G12;SSPC-PA2;BS3900-C5; BS EN ISO 1461; IMO PSPC

特征：

適用于所有磁感應和渦流探頭

自動探頭識別
自動基材識別（FMP 20）
用戶友好的儀器操作
用于數據傳輸到PC的USB端口
大，顯示與240x160像素豐富的對比
準備在上電后進行測量
探頭放置時自動測量采集
內存多達1000個讀數
測量采集時的聲音信號
共同特征值的統計顯示，如平均值，標準差，zui小值，
zui大，范圍
通過ZERO鍵通過歸一化，輕松適應樣品的形狀
對于強大的形狀差異，使用一個或兩個校準箔進行額外的校正校準
在材料和幾何特性的情況下，特性設置的主校準
將主校準存儲在連接的探頭中的能力
測量單位可以在μm和mil之間切換
可調節儀器關閉或連續操作
顯示各種狀態（例如，當電池電壓下降時的警告信息）
可鎖定鍵盤/限制操作模式
機械滑塊覆蓋測量操作不需要的鍵
各種語言設置

磁感應法
其強度取決于涂層厚度，并被磁性基材擴大。 捕獲該放大的測量線圈的信號通過存儲在儀器中的探針特性轉換成涂層厚度讀數。

渦流法

探頭的激勵電流使得能夠在基材中引起渦流的高頻初級磁場。 其二次磁場削弱了主場。 這種弱化效應對應于探頭和基材之間的距離（=涂層厚度），并通過存儲在儀器中的探頭特性轉換成涂層厚度讀數。