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手持式DUALSCOPE FMP40膜厚測量儀 該手持儀器用于測量所有金屬上的涂層厚度，即非破壞性。 該儀器具有許多功能，包括自動基板材料識別和圖形測量顯示。后者作為具有高斯貝爾曲線的直方圖。 它還提供過程容限限制的輸入選項和相關過程能力指標cp和cpk的計算。 如果超過公差設定限制，則可以給出聲音和視覺警告。

Fischer測厚儀Couloscope CMS2 STEP 除了與COULOSCOPE CMS2相對應的涂層厚度測量之外，COULOSCOPE CMS2 STEP還提供了根據ASTM B764 - 94和DIN 50022進行STEP測試測量的功能.COULOSCOPE CMS2 STEP非常適合測量單個涂層厚度和電位 多種鎳涂層以簡單的標準符合方式的差異。

Fischer PHASCOPE PMP10 PHASCOPE PMP10是一款根據相位感度渦流方法快速，手持式儀器，用于非破壞性的測量多種基材上的，包括小型結構和粗糙表面上的導電涂層的厚度。簡便和現場的測量鍍層厚度的手提式儀器。通過選擇合適的測量探頭，甚至可以達到非接觸式的測量。

FISCHERSCOPE MMS臺式測厚儀： 在所有行業，作為其現代設計的結果，MMS 可以隨時適應您的需求并擴展。 無論涂層厚度，電導率還是鐵素體含量，使用MMS，您將始終正確地進行測量。 MMS用于所有測量應用的一種測量儀器。

Fischer測厚儀測量原理 根據磁感應和/或渦流法測量非破壞性涂層厚度。 自動探頭識別 自動識別（fmp20）襯底材料 USB接口的數據傳輸到PC 常見特征值的統計顯示，如均值、標準差、Z小值、Z大值、范圍 對試樣幾何形狀的簡單調整 交付與PC軟件菲舍爾數據中心具有以下功能：傳輸和歸檔測量數據，全面的統計和圖形評價，易于創建和打印檢查報告